Innovativer Speichertest
Oulong Technology hat eine proprietäre anwendungsnahe Testmethodik für DRAM Bausteine entwickelt. In Zukunft wird diese auch bei FLASH- und anderen Halbleiterprodukten zum Einsatz kommen. Statt dem Einsatz von kostspieligen und anwendungsfernen Produktionstestern, fokussieren wir uns auf den Einsatz anwendungsnaher Motherboards und Miniatur-Klimakammern unter Einsatz einer proprietären Haltevorrichtung. Unser Ziel ist die Bereitstellung von Methoden, die eine höhere Qualität als die heute zum Einsatz kommenden, kostspieligen Lösungen erzielen.
Wir glauben nicht mehr an den Einsatz kommerzieller Produktionstester für Burn-in, Zellen- und Geschwindigkeitstest. Diese stellen bezüglich Störsignalen und Signalgeschwindigkeit keine reale Einsatzumgebung dar, sind deshalb oftmals nicht in der Lage, für die Kundenanwendung relevante Schwachstellen zu finden.
Abbildung realer Anwendungsumgebung und Signalgeschwindigkeit ergibt höhere Speicherqualität.
DRAM-Bausteine, welche im Produktionstest einwandfrei erscheinen, zeigen im realen Einsatz oftmals einzelne Zellen- oder andere Fehler, trotz der großen Vorhalte bezüglich Temperatur oder Speicherhaltezeit während dem Test. Unser Ansatz stellt eine realistischere Einsatzumgebung bereit und führt deshalb zu höherer Testqualität. Zusätzlich ist keine so hohe Investition erforderlich, um neue Produkte oder Gehäusedimensionen an die Produktionstester anzupassen. Hierdurch sind auch Kleinserien für Spezialanwendungen mit niedrigen Kosten in kurzer Zeit von 1-2 Monaten möglich, bei Testtemperaturen im Bereich von -50C bis 150C! Wir können eigene Produkt- und Gehäusegrößen realisieren, selbst wenn die Produktionszahlen von z.B. Satellitenanwendungen ein Volumen von 20-30 Tausend Stück nicht überschreiten.
